副高级

杨成林

2018年11月21日 01时42分

杨成林 | 副教授

1978年出生,电子科技大学测试计量技术与仪器专业工学博士,2010-2011美国佐治亚理工学院访问学者。

主要研究方向:电子系统测试性建模、测试性设计与优化、电路级故障建模与诊断。以第一作者身份在IEEE汇刊等国际权威期刊发表SCI检索论文6篇,EI检索10余篇,获2009年IEEE电路与系统测试与诊断国际会议最佳论文奖,授权发明专利一项。承担和参与国家自然科学基金重点项目、面上项目、青年项目,总装备部十一五、十二五预研等项目。

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